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Webinarios sobre desarrollo de Test

En esta era de la miniaturización, los ingenieros de diseño y de producción necesitan toda la ayuda posible para asegurar que sus tarjetas electrónicas sean fiables.

Está demostrado que la tecnología JTAG/boundary-scan aumenta la fiabilidad y la calidad de fabricación de tarjetas electrónicas complejas y sistemas multi -tarjeta disminuyendo el tiempo de puesta en el mercado de nuevos productos.

Si nunca ha utilizado JTAG-boundary-scan, quiere conocerlo y saber como puede ayudarle en su trabajo, le ofrecemos la oportunidad de asistir a 3 seminarios vía web.

Los seminarios se impartirán en Inglés, son gratuitos  y deberá registrarse  en los siguientes enlaces:

 INTRODUCCIÓN A BOUNDARY SCAN
Orientado a ingenieros de test e ingenieros de desarrollo de producto que están evaluando o iniciándose en el desarrollo de test y programación de dispositivos vía JTAG.
16 de junio a las 10:30 h 
[vc_btn title=”Registrese aqui” link=”url:http%3A%2F%2Fregister.gotowebinar.com%2Fregister%2F8016372559206032651||target:%20_blank|”]

Sesión para profundizar en el desarrollo de aplicaciones de test JTAG, ATPG frente a Scripts, test en modos de emulación, cobertura de fallos e implementación de producción.

 23 de junio a las 10:30 h   

[vc_btn title=”Registrese aquí” link=”url:http%3A%2F%2Fregister.gotowebinar.com%2Fregister%2F7132602704985826059||target:%20_blank|”]

Test de dispositivos con buses I2C, SPI.E-net, CAN

en tarjetas electrónicas y uso de Scripts en Python para generar también test funcional.

30 de junio a las 10:30h

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