• Ofrece una solución completa para caracterizar dispositivos y materiales.
• Realiza medidas I-V, C-V e I-V de alta frecuencia y pulsada.
• Hasta 9 SMUs desde 0,1 fA hasta 1A y 1µV a 200V.
• CV hasta 10 MHz.
• Medidas I-V pulsadas desde 60 nS.
• Configurable y ampliable según necesidades.
